GTEM小室

產品型號：FF-GTEM100
更新時間：2025-06-25

簡要描述：GTEM小室是上限頻率擴展至GHz的TEM波導室，它是一種用于替代輻射發射和輻射敏感度測試的低成本測量設備。它包含在標準IEC/EN 61000-4-20“測試和測量技術——橫向電磁博導的輻射和抗干擾試驗"中。相比于EMC測試當中用到的暗室或開闊場的測量方法，GTEM小室為中小型尺寸的EUT（被測設備），測試頻率達到18GHz的測試提供了顯著的優勢，EUT的快速周轉及眾多的測試變化處理變得方便快捷

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產品詳情

　　GTEM小室全稱為吉赫茲橫電磁波傳輸室，是電磁兼容領域新近發展起來用于寬帶測量評定被測設備電磁兼容性能的新技術。它繼承了非對稱式TEM小室的損耗小、場強均勻、場強準確可調等優點，吸取了無反射室可測頻率高的優點，同時又彌補了TEM cell對頻率上限的限制及內部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處，GTEM小室的頻率范圍可從直流至數GHz 以上，其內部容積與整體比值大，對被測物體大小的限制與頻率無關，使用時對外界環境無特殊要求。因此，GTEM小室很早就被歐洲標準認可作為電磁輻射敏感度(EMS)測試設備，并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測試設備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測試系統較之在電波暗室、開闊場地、屏蔽室中采用天線輻射，接收等測試方法可節省大量資金，免去對外界測試環境條件的要求，所需配置的儀器設備簡單、效率高，并可數倍地提高測量速度，極易實現自動化測量。

　　參照標準

　　YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國通信行業標準》–電信設備內部電磁發射診斷技術要求和測量方法(150KHz~1GHz) 第2部分:輻射發射測量TEM小室和寬帶TEM小室方法

　　IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測試方法(150KHz~1GHz)第2部分：輻射騷擾測量——TEM小室和寬帶TEM小室法》

　　DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分：試驗和測量方法.橫向電磁(TEM)波導的輻射和干擾試驗》

　　IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測試方法》

　　GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗和測量技術》橫電磁波(TEM)波導中的發射和抗擾度試驗

　　GJB151B-2013 《設備和分系統電磁發射和敏感度要求與測量》-RS105瞬態電磁場輻射敏感度

　　ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車輛用窄帶發射的電磁能量進行電子干擾部件試驗方法》-TEM小室法

　　IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場傳感器和探頭(天線除外)的校準》

　　JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國國家計量檢定規程》

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